Laboratoriumapparatuur -> Profilometer, productanalyse
top
DOSS ET4
Controle van afmetingen van individuele O-ringen of, van meerdere stuks op conformiteit binnen de ingestelde toleranties.
Meer informatie »
Controle van afmetingen van individuele O-ringen of, van meerdere stuks op conformiteit binnen de ingestelde toleranties.Meer informatie »
DOSS ET6
Dimensies bepalen van rubber onderdelen zonder last van indrukking door meetgereedschap.
Meer informatie »
Dimensies bepalen van rubber onderdelen zonder last van indrukking door meetgereedschap.Meer informatie »
DOSS MIGG
Automatisch meetsysteem zonder contact voor ronde delen, maar ook vervormd, met Laser Technologie.
Meer informatie »
Automatisch meetsysteem zonder contact voor ronde delen, maar ook vervormd, met Laser Technologie.Meer informatie »
i-Dex-ta
Semi-automatisch 3D oppervlakte inspectie systeem met contactloze optische metrologie voor een breed scala van toepassingen
Meer informatie »
Semi-automatisch 3D oppervlakte inspectie systeem met contactloze optische metrologie voor een breed scala van toepassingenMeer informatie »
OPTOTOP, profielmeting en analyse
Optisch oppervlak meetsysteem voor snelle contactloze metingen van complexe topografische en ....
Meer informatie »
Optisch oppervlak meetsysteem voor snelle contactloze metingen van complexe topografische en .... Meer informatie »
RayDex cr
De RayDex cr is een non-contact alternatief voor mechanische tastsensoren.
Meer informatie »
De RayDex cr is een non-contact alternatief voor mechanische tastsensoren. Meer informatie »
RayDex hr
De RayDex hr is een non-contact alternatief voor mechanische tastsensoren.
Meer informatie »
De RayDex hr is een non-contact alternatief voor mechanische tastsensoren.Meer informatie »
SemDex 101
Non-contact, snel en precies in procescontrole voor metingen op oppervlakken.
Meer informatie »
Non-contact, snel en precies in procescontrole voor metingen op oppervlakken.Meer informatie »
SemDex 301
Non-contact, snel en precies in procescontrole voor metingen op oppervlakken.
Meer informatie »
Non-contact, snel en precies in procescontrole voor metingen op oppervlakken.Meer informatie »
SemDex A31/A32
Automatisch Non-contact metrologie systeem, voor geavanceerde Wafer verpakking.
Meer informatie »
Automatisch Non-contact metrologie systeem, voor geavanceerde Wafer verpakking.Meer informatie »
TRACEiT, oppervlakanalyse, draagbaar
Een nieuw gepatenteerd en draagbaar systeem voor contactloze en hoog kwalitatieve metingen en analyses van ....
Meer informatie »
Een nieuw gepatenteerd en draagbaar systeem voor contactloze en hoog kwalitatieve metingen en analyses van ....Meer informatie »
UST, Universele Oppervlakte Tester
Met één enkel instrument de micro-mechanische oppervlakte-eigenschappen meten van o.a. kunststoffen, papier,....
Meer informatie »
Met één enkel instrument de micro-mechanische oppervlakte-eigenschappen meten van o.a. kunststoffen, papier,....Meer informatie »
top
Selecteer een productgroep:
of zoek op norm / materiaalsoort:
