Online-Inline procescontrole -> Profilometer, productanalyse
Stradex A
Deze sensor combineert zeer nauwkeurige metingen voor nm 3D-topografie met de robuustheid die onder productieomstandigheden....
Meer informatie »
Meer informatie »
Stradex F2
Het non-contact alternatief voor capacitieve en op radioactiviteit gebaseerde metrologie.
Meer informatie »
Het non-contact alternatief voor capacitieve en op radioactiviteit gebaseerde metrologie. Meer informatie »
Stradex T6
De StraDex T-serie is ontwikkeld om dunne transparante film te meten onder productieomstandigheden.
Meer informatie »
Meer informatie »
Selecteer een productgroep:
of zoek op norm / materiaalsoort:


