SemDex 301



Materiaal:siliconen, GaAs, CdTe, glas, SOI, polyamiden
Toepassing:Oppervlakmeting
Merk:Sentronics Metrology
Brochure:Download pdf

Het SemDex 301 inspectiesysteem, maakt het semi automatisch meten van (substraat) laagdikte van siliciumschijfjes, platte panelen, MEMS chips en andere objecten mogelijk. Afhankelijk van de toepassing kunnen verschillende sensoren in de opstelling geplaatst worden.
Laagdikte, kromming/verbuiging, effenheid en ruwheid van de siliciumschijfjes kunnen in een enkele scan worden gemeten.

Informatie aanvragen
Productgroep:Oppervlakanalyse
Toepassing:Oppervlakanalyse
Product:SemDex 301
Naam:*
Bedrijf:*
Telnr:*
Email:*
Uw vraag:*

Ter beperking van spam, verzoeken wij u de uitkomst van de volgende berekening in te vullen.:
6 + 7 *

SemDex 301 

Foto's
SemDex 301 SemDex 301 SemDex 301
Klik om te vergroten!

terug
Selecteer een productgroep:
of zoek op norm / materiaalsoort:
  Norm:


Materiaalsoort:


Ik zoek...







Copyright 2018 Artec Testnology alle rechten voorbehouden | sitemap