SemDex A31/A32



Materiaal:siliconen, GaAs, InGaAs, CdTe, glas, plakband, polyamiden, lijmen
Toepassing:Wafer evaluatie
Merk:Sentronics Metrology
Brochure:Download pdf

De SemDex A32 is een volledig geautomatiseerd wafer inspectiesysteem om wafers te evalueren tot maximaal 12 "(300 mm) met hoge doorvoersnelheid van meer dan 60 wafers / uur. De evaluatie omvat diktemetingen (TTV) van substraten (na vlakslijpen voor bijvoorbeeld) en Kromming/verbuiging in één scan. Ruwheid kan optioneel worden geëvalueerd.

Informatie aanvragen
Productgroep:Oppervlakanalyse
Toepassing:Oppervlakanalyse
Product:SemDex A31/A32
Naam:*
Bedrijf:*
Telnr:*
Email:*
Uw vraag:*

Ter beperking van spam, verzoeken wij u de uitkomst van de volgende berekening in te vullen.:
4 + 4 *

SemDex A31/A32 

Foto's
SemDex A31/A32 SemDex A31/A32 SemDex A31/A32
Klik om te vergroten!

terug
Selecteer een productgroep:
of zoek op norm / materiaalsoort:
  Norm:


Materiaalsoort:


Ik zoek...







Copyright © 2018 Artec Testnology – alle rechten voorbehouden | sitemap