Optisch, ruwheid, 3D topografie, desktop



Materiaal:alle materialen
Toepassing:topografie, profilometrie, structuur, ruwheid
Merk:Innowep
Brochure:Download pdf

Profilometer, 3D, contactloos.

Optisch oppervlakte meetsysteem voor snelle contactloze metingen van complexe topografische en geometrische modellen in het nano-, micro- en macro-meetbereik. Compact stand-alone laboratoriuminstrument inclusief PC.

Inzetbaar voor o.a. Research & Development, acceptatie testen, kwaliteitscontrole en schadeanalyse.

  • Gemakkelijke en gebruiksvriendelijke bediening

  • Snelle data-acquisitie

  • Robuuste meetmethode voor verschillende materialen, coatings en monsters

  • Micro ruwheid index voor lineair profiel

  • Topografie, profiel 2-D lineair, 3-D weergave en profielhoogte tot 2 mm Z

  • 12 nm resolutie

Toepassingen:

  • Analyse van ruwheid en structuurbepaling op vlakke of gebogen monsters, gestructureerd of glad.

  • Meting van macro en micro geometrie en vlakheidcontrole.

  • Oppervlakte controle, bijv. relifdruk (optie: mobiele eenheid)



Informatie aanvragen
Productgroep:Oppervlakanalyse
Toepassing:Oppervlakanalyse
Product:Optisch, ruwheid, 3D topografie, desktop
Naam:*
Bedrijf:*
Telnr:*
Email:*
Uw vraag:*

Ter beperking van spam, verzoeken wij u de uitkomst van de volgende berekening in te vullen.:
3 + 5 *

Foto
Optisch, ruwheid, 3D topografie, desktop 


terug
Selecteer een productgroep:
of zoek op norm / materiaalsoort:
  Norm:


Materiaalsoort:


Ik zoek...







Copyright 2018 Artec Testnology alle rechten voorbehouden | sitemap