ruwheidsmeting, optisch, Stradex-a



Materiaal:metalen, semiconductoren, siliconen, GaAs, kunststoffen, keramiek, zachte materialen
Toepassing:3D-meting, oppervlaktopografie, oppervlakruwheid
Merk:Sentronics Metrology

Optische sensor als alternatief voor contactloze ruwheidsmetingen

De StraDex a sensor biedt optische, en dus non-contact, ultra-precisie ruwheidsmeting op objecten. Zowel 1D en 2D ruwheden worden bepaald.

De gegevens worden weergegeven als lijndiagram of oppervlakdiagram. Deze compacte sensor wordt veel gebruikt voor continu meting van onderdelen op een lopende band.

Dankzij de flexibele data-standaard, kunnen de resultaten worden geëvalueerd met, zowel de gebruiksvriendelijke TopoSpect systeemsoftware als met software van derden.

Metrologie:

  • 3D Micro-Topografie 

  • 1D ruwheden in de sub-nm 

  • 2D ruwheden (load factor)

Kenmerken:

  • Ruwheid meten in de sub-nm 

  • Meettijden: tot 4 s, 1 s (kleiner formaat) 

  • Werkafstand 3.5 mm 

  • Max. AF-bereik: 150 pm

  • Gemeten oppervlak: 400 × 400 pm ² 

  • Gebruiksvriendelijke TopoSpect of TopoLine software

  • Optioneel: Integreerbaar in een extern automatiseringssysteem of CMM



Informatie aanvragen
Productgroep:Procescontrole
Toepassing:laagdikte & ruwheid
Product:ruwheidsmeting, optisch, Stradex-a
Naam:*
Bedrijf:*
Telnr:*
Email:*
Uw vraag:*

Ter beperking van spam, verzoeken wij u de uitkomst van de volgende berekening in te vullen.:
5 + 0 *

ruwheidsmeting, optisch, Stradex-a 

Foto's
ruwheidsmeting, optisch, Stradex-a ruwheidsmeting, optisch, Stradex-a ruwheidsmeting, optisch, Stradex-a ruwheidsmeting, optisch, Stradex-a
Klik om te vergroten!

terug
Selecteer een productgroep:
of zoek op norm / materiaalsoort:
  Norm:


Materiaalsoort:


Ik zoek...







Copyright © 2018 Artec Testnology – alle rechten voorbehouden | sitemap